簡(jiǎn)要描述：UV-313/340型紫外輻照計采用SMT貼片技術(shù)，選用高精度低功耗數字芯片，儀器外殼為流線(xiàn)型設計，探測器經(jīng)過(guò)嚴格的光譜及角度特性校正，性能穩定，適用性強。該儀器適用于光化學(xué)、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、以及大規模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測量工作。
產(chǎn)品型號：UV-313/340型廠(chǎng)商性質(zhì)：生產(chǎn)廠(chǎng)家更新時(shí)間：2016-05-26訪(fǎng) 問(wèn) 量：1136UV-313/340型紫外輻照計采用SMT貼片技術(shù)，選用高精度低功耗數字芯片，儀器外殼為流線(xiàn)型設計，探測器經(jīng)過(guò)嚴格的光譜及角度特性校正，性能穩定，適用性強。該儀器適用于光化學(xué)、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、以及大規模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測量工作。
UV-313/340型紫外輻照計特點(diǎn):* 光譜及角度特性經(jīng)嚴格校正
* 數字液晶顯示，帶背光
* 手動(dòng)/自動(dòng)量程切換
* 數字輸出接口（USB冗余供電）
* 低電量提醒
* 自動(dòng)延時(shí)關(guān)機
* 有數字保持
* 輕觸按鍵操作，蜂鳴提示
UV-313/340型技術(shù)指標：
| 探頭（二選其一）： | UV-313探頭 | UV-340探頭 |
| 波長(cháng)范圍及峰值波長(cháng): | λ：(290～340)nm；λP＝313nm | λ：(315～370)nm；λP＝340nm |
| 紫外帶外區雜光： | UV313：小于0.05% | UV340：小于0.05% |
| 輻照度測量范圍： | (0.1～199.9×103) μW/cm2 | |
| 相對示值誤差： | ±10%（相對與NIM標準） | |
| 角度響應特性： | ±5%(α ≤10°) | |
| 線(xiàn)性誤差： | ±1% | |
| 短期不穩定性： | ±1%（開(kāi)機30min后） | |
| 響應時(shí)間： | 1秒 | |
| 使用環(huán)境： | 溫度(0～40)℃，濕度＜85%RH | |
| 尺寸和重量： | 160mm×78mm×43mm；0.2kg | |
| 電源： | 常規使用6F22型9V積層電池一只 | |
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